2024自動光學檢測行業市場需求分析、趨勢分析

自動光學檢測(AOI)行業的發展呈現出穩步上升的趨勢，其背后的推動力主要來自于技術進步、市場需求增長以及應用領域的拓展。技術進步是驅動AOI行業發展的關鍵因素。

隨著計算機視覺、機器學習、深度學習等技術的快速發展，AOI設備在圖像識別、缺陷檢測等方面的能力得到了顯著提升。這使得AOI設備能夠更快速、更準確地檢測出產品缺陷，提高生產效率和質量。

根據中研普華研究院撰寫的《2024-2029年中國自動光學檢測行業市場需求分析及投資前景預測研究報告》顯示：

自動光學檢測行業市場需求分析、趨勢分析

自動光學檢測(automated optical inspection, AOI)技術，也稱為機器視覺檢測(machine vision inspection, MVI)技術或自動視覺檢測(automated visual inspection, AVI)技術。在有些行業，如平板顯示、半導體、太陽能等制造行業，AOI這一術語更加流行，被人知曉。但是AOI和MVI/AVI在概念和功能上還是有細微差別的。從狹義上來說，MVI是一種集成了圖像傳感技術、數據處理技術、運動控制技術，在工業生產過程中，執行測量、檢測、識別和引導等任務的一種新興的科學技術。

MVI的基本原理可用如圖表，它采用光學成像方法(如相機，或者一個復雜的光學成像系統)模擬人眼的的視覺成像功能，用計算機處理系統代替人腦執行數據處理，最后把結果反饋給執行機構(如機械手)代替人手完成各種規定的任務。

從廣義上來說，MVI是一種模擬和拓展人類眼、腦、手的功能的一種技術，在不同的應用領域其定義可能有著細微的差別，但都離開不了兩個根本的方法與技術，即從圖像中獲取所需信息，然后反饋給自動化執行機構完成特定的任務。

可以說基于任何圖像傳感方法(如可見光成像、紅外成像、X光成像、超聲成像等等)的自動化檢測技術都可以認為是MVI或AVI。當采用光學成像方法時，MVI實際上就變為AOI。因此AOI可以認為是MVI的一種特例。

根據成像方法的不同，AOI又可分為三維(3D)AOI和二維(2D)AOI，三維AOI 主要用于物體外形幾何參數的測量、零件分組、定位、識別、機器人引導等場合; 二維AOI主要用于產品外觀(色彩、缺陷等)檢測、不同物體或外觀分類、良疵品檢測與分類等場合。

其次，市場需求增長也是推動AOI行業發展的重要因素。隨著電子制造、半導體、平板顯示等行業的快速發展，對產品質量和生產效率的要求越來越高。AOI設備作為一種高效、準確的檢測手段，受到了這些行業的廣泛關注和采用。

此外，應用領域的拓展也為AOI行業的發展提供了廣闊的空間。除了傳統的電子制造領域，AOI設備還開始應用于新能源、汽車制造、醫療等領域。這些新興領域對AOI設備的需求不斷增長，為行業的發展提供了新的動力。

自動光學檢測細分市場

四探針測試儀是用來測量半導體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻等的測量儀器。 測量半導體電阻率方法的測量方法主要根據摻雜水平的高低，半導體材料的電阻率可能很高。有多種因素會使測量這些材料的電阻率的任務復雜化，包括與材料實現良好接觸的問題。特殊的探頭設計用于測量半導體晶片和半導體棒的電阻率。這些探頭通常由諸如鎢的硬質金屬制成，并接地到探頭。在這種情況下，接觸電阻很高，必須使用四點共線探針或四線絕緣探針。兩個探針提供恒定電流，另外兩個探針測量整個樣品一部分的電壓降。通過使用所測電阻的幾何尺寸來計算電阻率。

薄膜應力作為半導體制程、MEMS微納加工、光電薄膜鍍膜過程中性能測試的必檢項，其測試的精度、重復性、效率等因素為業界所重點關注。對應產品目前業界有兩種主流技術流派：1)以美國FSM、KLA、TOHO為代表的雙激光波長掃描技術(線掃模式)，盡管是上世紀90年代技術，但由于其簡單高效，適合常規Fab制程中進行快速QC，至今仍廣泛應用于相關工廠。2)以美國kSA為代表的MOS激光點陣技術，抗環境振動干擾，精于局部區域內應力測量，這在研究局部薄膜應力均勻分布具有特定意義。線掃模式主要測量晶圓薄膜整體平均應力，監控工序工藝的重復性有意義。但在監控或精細分析局部薄膜應力，激光點陣技術具有特殊優勢，比如在MEMS壓電薄膜的應力和缺陷監控。

紅外光譜儀是利用物質對不同波長的紅外輻射的吸收特性，進行分子結構和化學組成分析的儀器。紅外光譜儀通常由光源，單色器，探測器和計算機處理信息系統組成。根據分光裝置的不同，分為色散型和干涉型。對色散型雙光路光學零位平衡紅外分光光度計而言，當樣品吸收了一定頻率的紅外輻射后，分子的振動能級發生躍遷，透過的光束中相應頻率的光被減弱，造成參比光路與樣品光路相應輻射的強度差，從而得到所測樣品的紅外光譜。 紅外光譜法操作簡單，不破壞樣品，使其在半導體分析的應用日趨廣泛。半導體材料的紅外光譜揭示了晶格吸收、雜質吸收和自由載流子吸收的情況，直接反映了半導體的許多性質，如確定紅外透過率和結晶缺陷，監控外延工藝氣體組分分布，測載流子濃度，測半導體薄層厚度和襯底表面質量。

自動光學檢測行業趨勢

AOI設備的需求將持續增長。特別是在電子制造、半導體、平板顯示等關鍵領域，AOI設備的應用將更加廣泛。預計未來幾年，全球AOI市場規模將繼續保持增長態勢。

隨著計算機視覺、機器學習、人工智能等技術的快速發展，AOI設備的性能將進一步提升。更精確的圖像識別、更高的檢測速度、更強的自我學習和適應能力，將是未來AOI設備的重要發展方向。

目前，AOI主要應用于電子產品檢測，但隨著技術的進步和市場的拓展，其應用領域將逐漸擴大。例如，在汽車制造、新能源、醫療器械等領域，AOI設備都有望發揮重要作用。

為了推動制造業的轉型升級，提高產品質量和競爭力，各國政府可能會出臺相關政策，鼓勵和支持AOI等先進檢測技術的應用。這將為AOI行業的發展提供有力的政策保障。隨著AOI市場的擴大，越來越多的企業將進入這個領域，市場競爭將日趨激烈。

在激烈的市場競爭中，企業及投資者能否做出適時有效的市場決策是制勝的關鍵。中研網撰寫的自動光學檢測行業報告對中國自動光學檢測行業的發展現狀、競爭格局及市場供需形勢進行了具體分析，并從行業的政策環境、經濟環境、社會環境及技術環境等方面分析行業面臨的機遇及挑戰。同時揭示了市場潛在需求與潛在機會，為戰略投資者選擇恰當的投資時機和公司領導層做戰略規劃提供準確的市場情報信息及科學的決策依據，同時對政府部門也具有極大的參考價值。

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